通知公告
20210413分析测试中心部分仪器测试费用调整通知
2021-04-13
为贯彻落实学校双一流学科建设总体目标、建设一流的校级分析测试服务平台,为进一步鼓励校内用户使用分析测试中心的大型仪器,分析测试中心拟从每年测试经费总收入中提取一定比例,对借助中心服务发表高水平高质量论文的师生用户给予测试经费奖励。奖励申请方式和审核标准等内容详见附件1。附件2为天津工业大学分析测试中心高水平测试服务校内用户奖励申请表(也可于网站下载专区内进行下载)。附件1:关于对借助中心服务发表高水平论文的师生用户给予测试经费奖励的预通知附件2:天津工业大学分析测试中心高水平测试服务校内用户奖励申请表
2021-03-15
分析测试中心引进的德国ZEISS Crossbeam550电子显微镜系统,是集热场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、聚焦离子束系统(FIB)、气体注入系统(GIS)等多种功能于一体的全方位高端工作平台。之前已开放了微纳米加工与透射电镜(TEM)样品制备功能,获得的良好的效果和积极的反馈,极大的支持了本校科研工作的开展。由于广大师生测试需求的不断扩展,为了提供更好、更全面的服务,经研究决定,本平台自2021年3月15日起开放以下功能:1.      能谱扫描功能 仪器配备EDAX能谱(型号:Octane Elect Super,70 mm2),可实现样品经FIB加工后截面微区的成分分析,具有精确定位、截面质量好、分析更准确等特点。收费标准为:点分析50元,线扫/面扫100元/个; 截面加工依照FIB标准。图1 FIB 加工Fe-Ti-Zn镀锌钢板样品截面能谱2. 三维重构功能 FIB平台配备了ATLAS软件,可以对样品进行三维断层成像,并通过Dragonfly软件将一套2D图像处理成3D数据,从而实现对样品三维高级数据处理与分析。最小分辩率可达20纳米,实现内部结构如孔隙、孔喉、裂纹、掺杂物等的三维空间分布实景分析,并可以计算出内部结构的尺寸、体积、表面积及曲率等多种数据。结合能谱分析,可构筑样品内部化学组成、物理结构的三维实景图(如图2)。 收费标准为:1500元每小时(目标尺寸10*10*10um)。图2锂电池正极材料FIB分析三维重构效果图锂电池正极材料,通过FIB断层成像并三维重构后不仅可以实现三维空间结构的可视化分析,而且能够进行如颗粒度统计、粘结剂或孔隙百分比计算等深层次数据挖掘。3.管理员操作SEM测试 仪器本身具备高端SEM功能,配置有SE探测器、Inlens探测器、BSD探测器、STEM探测器等多种探测器,还配置有GATAN C1002型冷台,适合电子束敏感材料,例如聚合物和地质样品,在高束流下分析也能保持稳定。建议在普通SEM下观测遇到变形问题的样品,使用该仪器利用冷台辅助测试。每周一开放管理员操作SEM测试服务,有需求的同学请于前一周的周一~周三在大仪平台预约。收费标准为:1000元/小时(以实际使用时间计算)。 仪器地点:分析测试中心B109管理员:王志芳(15522087483,wangzhifang@tiangong.edu.cn) 仪器链接:http://atc.tjpu.edu.cn/equipment/66分析测试中心                                        2021年3月12日
2021-03-12
中心新闻
29 2021-03
为贯彻分析测试中心“五个一流”建设理念,提升“一流的服务”水平,增强我校研究生同学对尖端分析测试仪器原理的理解,锻炼实际操作、分析测试能力,助力创新科研能力培养,分析测试中心克服测试压力大、测试教师不足的现实困难,在本学期初面向研究生进行系列专题培训。本次培训主要对象为一年级研究生,由7位测试教师分时段开放透射电镜、扫描电镜、原子力显微镜、X射线光电子能谱、X射线衍射、拉曼光谱与红外光谱、热重与差示扫描量热分析等4类13台套仪器培训,共130多名研究生参加。通过集中培训和分组练习,部分同学已初步掌握仪器的使用方法,能够在老师指导下独立操作测试,有助于更好地开展科研工作。 为更好地服务我校师生,分析测试中心积极联系仪器厂商专业工程师来校进行专业培训,以提升测试一线教师的专业理论水平、仪器功能开发能力与测试技能;同时结合仪器特点和具体测试需求情况,逐步推出系列化、多层次的仪器培训,以进一步增强分析测试中心在学校人才培养和创新研发的支撑作用;加快推进一流公共测试服务平台的建设,为学校“双一流”建设作出应有的贡献。
26 2021-02
假期网信办公示的incaseformat病毒具有潜伏期长,不定期发作且发作后破坏性大的特点。 因中心大部分测试电脑主机所装操作系统较为老旧,所装测试软件具有一定的特殊性,无法安装杀毒软件,为避免此病毒潜伏发作对测试电脑主机造成影响,建议各位负责老师在测试开始前进行杀毒清理。详细如下: 一、Incaseformat病毒描述 病毒名称:incaseformat 破坏方式:主机感染病毒后删除所有非系统分区文件 传播途径:U盘等移动介质 表现形式:感染病毒的主机,Windows目录下生成tsay.exe、ttry.exe文件(C:\windows\tsay.exe,C:\windows\ttry.exe),文件图标伪装为文件夹。在感染主机重启后运行,对非系统分区下所有文件执行删除操作,同时创建同名的病毒文件incaseformat.log。 二、防范方式 1、排查主机Windows目录下是否存在图标为文件夹的tsay.exe、ttry.exe文件,若存在该文件,及时删除,删除前切勿对主机执行重启操作。 2、主流杀毒软件均可对该病毒进行查杀。亦可使用360安全卫士提供的incaseformat病毒专杀工具进行病毒查杀。专杀工具请查看附件1。 稳妥起见,使用此专杀工具查杀前,各位负责老师最好提前咨询工程师是否有更可靠的专杀工具(经证实,不会对测试软件造成影响的专杀工具)。 三、中毒后的处置 1、如发现主机Windows目录下存在图标为文件夹的tsay.exe文件,及时删除,删除前切勿对主机执行重启操作。 2、若主机中非系统分区文件被删除,切勿对被删除文件的分区执行写入操作,以免覆盖原有数据。可进一步尝试采用专业数据恢复软件对被删除数据进行恢复。 四、其它要求 1、请各位老师切实提高网络安全意识,做好安全防范,如发现感染主机,请及时与中心办公室联系。 2、外界移动存储设备(U盘、移动硬盘等)接入主机前,使用有效杀毒软件进行病毒查杀。  分析测试中心 2021年2月26日 附件1 incasefomat病毒查杀工具 附件2 2021年incaseformat病毒爆发时间点
20 2020-10
分析测试中心于2020年10月20日成功举办了固体表面Zeta电位仪(Anton Paar SurPASS-3)培训会。本次培训由安东帕(上海)有限公司李洋工程师主讲,采用理论、应用讲座与现场操作培训相结合的方式。 工程师深入浅出的介绍了固体表面电位测试的原理、Supass-3型电位仪可以实现的测试功能,进而结合纺织、材料、环境、化学等领域应用案例解析了仪器的功能和测试方法;最后,通过实验演示、典型样品测试模块使用等现场教学,强化了仪器实际操作技能。共计九十余名师生参加了此次培训会,并在会后与工程师就仪器使用中遇到的具体问题,进行了深入讨论。 Supass-3型固体表面Zeta电位仪采用流动电势/流动电流法测试样品表面电位,配备全自动pH值滴定系统可以进行pH范围扫描测试,配备可调狭缝样品槽和圆柱形样品槽,可以实现平板膜、中空纤维膜内/外表面和纤维、织物样品的宏观表面电位测试。 分析测试中心在学校学科建设经费支持下于2018年采购一台该仪器,自2018年10月正式服役以来,已完成逾3100小时测试服务,为我校科研教学工作提供了有力支撑。本次培训进一步加强了仪器管理老师和研究生同学对仪器功能、主要测试模块的理解,强化了仪器使用技能,将进一步增强分析测试中心的服务能力和对我校学科建设的支撑作用。
培训交流
牛津仪器科技(上海)有限公司、EDS&EBSD应用技术专家,孟丽君、马岚老师将于4月7日来我校做“能谱仪&电子背散射衍射仪原理及应用”专题培训会,欢迎各位老师和同学们莅临参加!能谱仪及电子背散射衍射仪均是搭载在扫描电镜上的常用仪器,可以检测样品元素成分/含量以及晶体结构等信息。本次报告会将围绕以下内容展开:如何分析能谱结果信息?如何获得更准确的定量结果?如何确认未知样品中微量元素的存在与否?如何提高空间分辨率?电子背散射衍射仪EBSD所谓何用?晶粒度、取向、晶界亦或形变如何获得,以及作何分析?报告时间:2021年4月7日,9:00-11:30报告地点:纺织学院F203 分析测试中心 2021年4月2日
2021-04-02
日立科学仪器有限公司的场发射扫描电镜全国产品经理、高级应用技术专家李英男老师将于本月21日来我校做“日立冷场扫描电子显微镜原理及应用”专题培训会。扫描电子显微镜作为必备的科研设备,主要用于观察、分析材料表面微米及纳米级别形貌。并且在近些年来,扫描电子显微镜的研发生产技术在逐步提高,其分辨率已经达到了1nm一下。日立扫描电子显微镜Regulus 8100利用了冷场电子源以及独特的低色差的光路,高灵敏多探测器的设计,高、低电压分辨率达到了0.7nm、0.8nm,可实现各种不同种类样品的表面高分辨观察成像。本次报告将包括如下内容:1、扫描电子显微镜结构及原理介绍2、日立冷场扫描电子显微镜的特点3、扫描电子显微镜的应用 时间:2020年12月21日,14:00—16:30。地点:纺织科学与工程学院F211欢迎老师及研究生同学参加!20201221分析测试中心专题培训会:日立冷场扫描电子显微镜原理及应用介绍                                                                      2020年12月12日                                                      
2020-12-12
卡尔蔡司(上海)管理有限公司X射线显微镜全国应用经理、高级资深应用技术专家曹春杰工程师将来分析测试中心做X射线显微镜技术及其最新应用进展专题培训会。X射线显微镜技术的发展为材料三维无损表征提供了新得研究手段,在微米、亚微米级分辨率三维成像尺度有明显的技术优势。德国蔡司X射线显微镜510 Versa采用光学+几何两级放大的专利成像技术,可实现大样品高分辨率和高衬度的成像。这种独特的技术特点突破了传统CT技术只能做小尺度样品的技术局限,开辟了微观三维尺度研究的新视野。本次报告将包括如下几方面内容:1、X射线显微镜技术介绍2、蔡司X射线显微镜技术的先进性3、X射线显微镜技术的应用4、X射线显微镜技术的应用拓展 后续两天将进行持续的现场培训,详细内容请查看PPT。20201021分析测试中心专题培训会:X射线显微镜技术及其最新应用进展时间:2020年10月21日,10:00-12:00。地点:纺织科学与工程学院F211 欢迎老师及研究生同学参加!
2020-10-17
仪器设备
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